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两箱冷热冲击试验箱供应商

  • 产品型号:
  • 产品时间:2018-11-15
  • 简要描述:两箱冷热冲击试验箱供应商广泛应用于航空航天、电子电工、仪器仪表、汽车、通讯、集成电路、半导体等领域,可发现产品潜在缺陷,做应力筛选试验,提高产品的可靠性和进行产品质量控制。
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  • 产品简介

一、两箱冷热冲击试验箱供应商简介:

  冷热冲击试验箱适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、车辆、金属、电子产品、各种电子元气件、电线、电缆等在高低温快速交变环境下,确定组件、设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力

 

二、两箱冷热冲击试验箱供应商技术参数:

型号

BS-40H

BS-80H

BS-150H

BS-200H

BS-252H

内箱尺寸W*H*D(mm)

400*350*300

500*400*400

600*500*500

600*600*550

700*600*600

外箱尺寸W*H*D(mm)

1100*1930*1450

1200*2000*1550

1300*1230*1670

1300*2500*1700

1400*2630*1750

重量(KG)

500

700

900

1100

1300

温度范围

 

(A-45℃  B-55℃  C-65℃    高温区:+60℃-150℃   低温区:-10℃--65℃  )

升温时间(蓄热区)

RT-200℃约35min

降温时间(蓄冷区)

RT—70℃约55min

温度回复/切换时间

≤5min   /  ≤10sec以内

温度精度/分布精度

±0.5℃     ±2.5% ℃

冷却方式

风、水冷式/双断压缩机

电源

 AC380V+±10%V 50HZ/60HZ

 

三、冷热冲击试验箱执行标准:

1. GJB150.5A-2009温度冲击试验

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验

第2部分:试验方法温度变化试验导则

4. GJB360B-2009温度冲击试验

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温

7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件

8.GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件

 

四、冷热冲击试验箱程序及容量控制:

.可使用的程序量:最大120组 , 程序间可设定联结使用

.可重复执行命令:每一个命令可达9999次

.具有高温开始/低温开始/常温开始;二区或三区冲击功能

.具有预热,预冷功能, .程序执行中具有跳段,保持功能

.具有6组PID参数设定

.具有断电程序记忆,复电后自动启动并接续执行程序功能

.具有温度等待计时功能

.数据采集,导出,查看图形功能

.具有预约启动及关机功能

.具有日期,时间调整功能

.按键及画面锁定(LOCK)功能

.可作自动循环冲击或手动选择性冲击

.故障病历表显示功能

.屏幕可作背光调整,可设定背光时间

.PID自动演算和FUZZY控制

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